SFP2表面粗糙度检测测头
适用于REVO®系统的SFP2表面粗糙度检测测头
REVO® SFP2将表面粗糙度检测集成到坐标测量机的测量程序中。
表面光洁度/表面粗糙度检测
传统上，表面粗糙度检测离不开手持式测头，或者需要将工件搬运到专用测量机上。REVO多类型传感器系统彻底突破了上述局限，它将表面粗糙度检测集成到坐标测量机的测量程序中，允许用户在扫描测量与表面粗糙度检测之间切换。这项独特功能还可将表面粗糙度分析完全整合到同一份测量报告中。
在五轴测量技术的支持下，SFP2的自动化表面粗糙度检测功能可大幅节省时间，减少工件搬运，并可提高坐标测量机的投资回报率。
SFP2系统 — 特性与优点
SFP2系统由一个测头和一系列模块组成，能够与REVO的其他测头选项自动交换，灵活性高，因此用户可在同一个坐标测量机平台上轻松选择理想工具检测各种特征。由多个测头采集的数据自动参照同一基准。
由于可使用MRS-2交换架以及RCP TC-3库位自动交换SFP2测头和测针吸盘，因此实现了将表面粗糙度检测完全集成到坐标测量机的标准测量程序中。
SFP2测头充分利用了REVO-2测座的无级定位和五轴运动能力。
SFP2包括一个集成式C轴，还可与各种几何形状的测尖配用，并且模块和测针吸盘之间采用铰链连接，这些因素使得SFP2能够检测难以接近的特征。
